偏光應(yīng)力儀依托偏光干涉原理結(jié)合 1/4 波片補(bǔ)償法完成玻璃制品的內(nèi)應(yīng)力檢測，其基本原理是偏振光束穿過存在殘余應(yīng)力的透明玻璃試樣時，材料內(nèi)部的應(yīng)力分布會引發(fā)雙折射現(xiàn)象，入射光被分解成為傳播速度互不相同的兩束偏振光，兩束光之間形成光程差。通過觀測偏振場下產(chǎn)生的干涉色序，即可完成試樣內(nèi)應(yīng)力的定性判別與定量測算，以此得到表征玻璃內(nèi)部應(yīng)力水平的光程差數(shù)值。這一過程的關(guān)鍵在于理解玻璃殘余應(yīng)力與光學(xué)雙折射效應(yīng)之間的對應(yīng)關(guān)系，以及光程差采集解析精度對最終應(yīng)力判定結(jié)果帶來的影響。

偏光干涉檢測的物理基礎(chǔ)是透明介質(zhì)的應(yīng)力?光學(xué)效應(yīng)。當(dāng)玻璃制品經(jīng)過成型、退火等工藝后，內(nèi)部殘留的應(yīng)力會改變材料光學(xué)各向同性特質(zhì)，使玻璃產(chǎn)生臨時雙折射。儀器產(chǎn)生的偏振光入射被測樣品，應(yīng)力的存在會讓偏振光發(fā)生分解，產(chǎn)生具有相位差的兩束偏振分量，兩束分量再次匯合后發(fā)生干涉，生成特征干涉色序。借助 1/4 波片補(bǔ)償法對相位差進(jìn)行補(bǔ)償消解，設(shè)備運(yùn)算單元對光程差信號解析換算，就可以得到試樣內(nèi)部殘余應(yīng)力的量化結(jié)果。整套檢測手段不會對玻璃本體產(chǎn)生破壞，獲取的檢測數(shù)據(jù)能夠用于校驗玻璃退火工藝效果，甄別藥用玻璃容器殘余應(yīng)力是否超標(biāo)，規(guī)避制品后續(xù)自行開裂的風(fēng)險。

設(shè)備兼具定性篩查與精準(zhǔn)定量兩類檢測邏輯，檢測輸出的光程差與應(yīng)力相關(guān)數(shù)據(jù)，可為玻璃制造、藥包材質(zhì)檢環(huán)節(jié)提供量化依據(jù)，也可用于寶石、塑料瓶胚等具備雙折射效應(yīng)工件的內(nèi)應(yīng)力評價。