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鎢燈絲掃描電鏡 材料檢測

簡要描述:TD16594 型鎢燈絲掃描電鏡 材料檢測屬于模塊化掃描電子顯微鏡設備,搭載鎢燈絲電子光源,支持高真空、可變壓力 VP、擴展壓力 EP 多種真空工作模式,非導電、含水樣品可無需噴金直接成像;配備二次電子與背散射雙探測器,搭配 SmartSEM 雙版本操作軟件,既可完成樣品微觀表面形貌觀測,也可外接能譜附件開展微區(qū)成分分析。

  • 產(chǎn)品型號:TD16594 型
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時間:2026-08-26
  • 訪  問  量:9

詳細介紹

品牌天棋星子價格區(qū)間100萬-200萬
產(chǎn)地類別國產(chǎn)應用領(lǐng)域化工,生物產(chǎn)業(yè),石油,能源,機械設備

TD16594 型鎢燈絲掃描電鏡 材料檢測產(chǎn)品介紹

產(chǎn)品概述

TD16594 型鎢燈絲掃描電鏡 材料檢測屬于模塊化掃描電子顯微鏡設備,搭載鎢燈絲電子光源,支持高真空、可變壓力 VP、擴展壓力 EP 多種真空工作模式,非導電、含水樣品可無需噴金直接成像;配備二次電子與背散射雙探測器,搭配 SmartSEM 雙版本操作軟件,既可完成樣品微觀表面形貌觀測,也可外接能譜附件開展微區(qū)成分分析,兼顧工業(yè)質(zhì)量管控、失效分析、材料科研以及部分生命科學樣品觀測,成像穩(wěn)定,操作友好,適配多行業(yè)實驗室檢測需求。

儀器用途

用于樣品微觀表面形貌觀測、微觀結(jié)構(gòu)表征;可搭配能譜附件完成微區(qū)成分分析,廣泛用于工業(yè)質(zhì)量管控、失效分析、材料科研、部分生命科學樣品觀測,實現(xiàn)樣品微觀形貌成像、顆粒觀測、缺陷分析等工作。

適用范圍

材料領(lǐng)域:金屬、陶瓷、高分子、復合材料、粉體樣品,觀測晶粒、斷口、腐蝕、涂層、顆粒形貌;

工業(yè)質(zhì)控與失效分析:電子元器件、零部件缺陷檢測、斷口失效分析;

科研領(lǐng)域:材料科學、地質(zhì)礦物、部分含水非導電樣品(可變壓力模式)。

執(zhí)行標準

GB/T 16594?2008《微米級長度的掃描電鏡測量方法通則》

JJF 1916?2021《掃描電子顯微鏡校準規(guī)范》

JY/T 0584?2020《掃描電子顯微鏡分析方法通則》

主要功能

1. 鎢燈絲電子源,支持高真空、可變壓力 (VP)、擴展壓力 (EP) 多種真空模式,非導電樣品可無需噴金直接成像;

2.SmartSEM 操作軟件,同時支持觸屏 SmartSEM?Touch 與電腦端 SmartSEM 兩套操作界面,新手與專業(yè)人員均可操作;

3. 二次電子 SE、背散射 BSE 成像,獲取形貌、成分襯度圖像;

4. 圖像采集、測量標注、圖像存儲導出、報告生成;

5. 可外接 EDS 能譜儀接口,實現(xiàn)微區(qū)元素分析。

功能特點

1. 多真空模式設計

具備高真空、可變壓力 VP、擴展壓力 EP 工作模式,非導電、含水樣品無需噴金鍍膜,可直接開展成像觀測,拓寬樣品適用范圍。

2. 雙操作交互系統(tǒng)

搭載 SmartSEM 與 SmartSEM?Touch 兩套操作界面,支持電腦鼠標操作與觸屏觸控操作;新手可快速上手,專業(yè)人員可調(diào)用全部高級參數(shù),兼顧科研與工業(yè)檢測使用。

3. 高性能成像探測

配備二次電子 SE、背散射 BSE 雙探測器;二次電子獲得樣品表面形貌信息,背散射實現(xiàn)成分襯度成像,可區(qū)分樣品不同物相組分。

主要技術(shù)參數(shù)

電子光源:鎢燈絲

放大倍率:7~1000000×

分辨率:3.0nm @30kV(高真空 SE);4.0nm @30kV 可變壓力模式

加速電壓:0.2?30kV

探針電流:0.5pA~5μA

真空模式:高真空、可變壓力 VP(10?400Pa)、擴展壓力 EP 模式

樣品室最大樣品直徑:230mm;最大樣品高度:130mm

電動載物臺 XYZ 行程:100mm ×90mm ×50mm

探測器:二次電子探測器 SE;背散射電子探測器 BSE

配套軟件:SmartSEM / SmartSEM Touch 觸屏軟件

整機尺寸(寬 × 深 × 高):約 822mm ×980mm ×1783mm

整機重量:約 650kg

售后服務

整機出廠經(jīng)過完整調(diào)試檢測,配套全套操作手冊,提供遠程技術(shù)指導,后期可提供儀器維修、校準咨詢服務。


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